渡層厚度檢測儀 - Ux-720
Ux-720微移動平臺和高清CCD搭配,旋鈕調(diào)節(jié)設(shè)計在殼體外部,觀察移動位置簡單方便.
X射線熒光技術(shù)測試鍍層厚度的應(yīng)用,提高了大批量生產(chǎn)電鍍產(chǎn)晶的檢驗條件,無損、快速和更準(zhǔn)確的特點,對在電子和半導(dǎo)體工業(yè)中晶質(zhì)的提升高了檢驗的保障.
Ux-720鍍層測厚儀采用了華唯專利技術(shù)FlexFp -Multi .不在受標(biāo)準(zhǔn)樣昂的限制,在無鍍層標(biāo)樣的情況下直接可以測試樣昂的鍍層厚度,測試結(jié)果經(jīng)得起科學(xué)驗證。
產(chǎn)品介紹
一、渡層厚度檢測儀Ux-720描述:
Ux-720新一代國產(chǎn)專業(yè)鍍層厚度檢測J 儀,采用高分辨率的Si-PIN (或者SDD硅漂移探測器) ,測量精度和測量結(jié)果良好.采用了FlexFP-Multi技術(shù),無論是生產(chǎn)過程中的質(zhì)量控制,還是來料檢驗和材料性能檢驗中的隨機(jī)抽檢租金檢,我們都會提供友好的體驗和滿足檢測的需求。
二、渡層厚度檢測儀Ux-720特性:
Ux-720微移動平臺和高清CCD搭配,旋鈕調(diào)節(jié)設(shè)計在殼體外部,觀察移動位置簡單方便.
X射線熒光技術(shù)測試鍍層厚度的應(yīng)用,提高了大批量生產(chǎn)電鍍產(chǎn)晶的檢驗條件,無損、快速和更準(zhǔn)確的特點,對在電子和半導(dǎo)體工業(yè)中晶質(zhì)的提升高了檢驗的保障.
Ux-720鍍層測厚儀采用了華唯專利技術(shù)FlexFp -Multi .不在受標(biāo)準(zhǔn)樣昂的限制,在無鍍層標(biāo)樣的情況下直接可以測試樣昂的鍍層厚度,測試結(jié)果經(jīng)得起科學(xué)驗證。
三、渡層厚度檢測儀Ux-720產(chǎn)品指標(biāo):
測厚技術(shù)X射線熒光測厚技術(shù)測試樣晶種類金屬鍍層,合金鍍層
測量下限0.003um
測量上限。30-50um (以材料元素判定)
測量層數(shù)。10層
測量用時30-120秒
探測器類型Si-PIN 電制冷
探測器分辨率145eV
高壓范圍: 0-50KV , 50W
X光筐參數(shù): 0-50KV , 50W ,側(cè)窗類;
光管靶材:Mo靶;
慮光片專用3種自動切換,
CCD觀察260萬像素
微移動范圍: XY15mm
輸入電壓AC220V , 50/60Hz
測試環(huán)境。非真空條件
數(shù)據(jù)通訊USB2 . 0模式
準(zhǔn)直器:1mm ,2mm ,4mm
軟件方法:FlexFP-M u Iti
工作區(qū)開放:工作區(qū)自定義
樣品腔:330x360x100mm
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